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    • 微电阻计
      • 微电阻计3541 测量电阻 20m/200mΩ, 2/20/200/2k/20k/100kΩ, 1M/10M/100MΩ,最小分辨率: 0.1μΩ,在慢挡模式下: 2/20/200/2kΩ, 最小分辨率: 10μΩ
    • 方块电阻测试仪
      • ST-21型方块电阻测试仪是四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,是一种依照类似国家标准和美国A.S.T.M标准而设计,专门测量半导体方块电阻(或称薄屋电阻、面电阻,单位Ω/□)的新型仪器。可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(如ITO透明导电氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。
    • 方块电阻测试仪
      • SRM-232型方块电阻测试仪是手持式方块电阻测试仪,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻。 SRM-232型方块电阻测试仪根据不同的测量范围分成以下四种型号:SRM-232-10、SRM-232-100、SRM-232-1000、SRM-232-2000
    • 微欧姆计
      • 使用3个数字显示器可同时显示读值、HI Limit、LO Limit 读值使用4 1/2位大型(0.5英吋)七段显示器 使用4 1/2位模拟数字转换器提供高准确度的量测
    • 表面阻抗测试仪
      • 特点: * 采用精密、低功耗运算放大器比较、解算,发光二极管显示。 * 灵敏度高,使用可靠。 * 体积小,重量轻,耗电少。 * 便携式设计,携带方便。
    • 掌上型方块电阻测试仪
      • ST-20掌上型方块电阻测试仪,是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜),金属薄膜……等同类物质的薄层电阻
    • 方块电阻测试仪
      • XX-2型方块电阻测试仪,是XX型系列四探针方块电阻测试仪中的新一代产品,专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的新型仪器.可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)……等同类物质的薄层电阻
    • 直流电阻微欧姆表
      • 最大5A的测试电流 · 四线式的量测法 · 7个档位(16mΩ到6KΩ) · 最佳解析度1μΩ · 准确度0.05% · 可测试电感性的电阻 · 附带电线长度量测功能

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